IEC 62528-2007 嵌入式基于芯片的集成电路用标准可试性方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-05 20:12:25  浏览:9073   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Standardtestabilitymethodforembeddedcore-basedintegratedcircuits
【原文标准名称】:嵌入式基于芯片的集成电路用标准可试性方法
【标准号】:IEC62528-2007
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2007-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC93
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:自动化;计算机硬件;内核;数据处理;数据记录;定义;设计;电气工程;电子设备和部件;集成电路;网络地址;印制电路;可再次使用的;开关电路;试验;打包
【英文主题词】:Automation;Computerhardware;Cores;Dataprocessing;Datarecords;Definition;Definitions;Digital;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;IP;Printedcircuits;Re-usable;Switchingcircuits;Testing;Wrappers
【摘要】:IEEEStd1500hasdevelopedastandarddesign-for-testabilitymethodforintegratedcircuits(ICs)containingembeddednonmergeablecores.ThismethodisindependentoftheunderlyingfunctionalityoftheICoritsindividualembeddedcores.ThemethodcreatesthenecessaryrequirementsforthetestofsuchICs,whileallowingforeaseofinteroperabilityofcoresthatmayhaveoriginatedfromdifferentsources.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:125P.;A4
【正文语种】:英语